依科視朗Y.Panel-數(shù)碼平板探測(cè)器擁有10年以上生產(chǎn)使用于工業(yè)環(huán)境下的數(shù)碼平板探測(cè)器經(jīng)驗(yàn)。我們的員工為ASTM委員會(huì)代表，并與BAM（德國(guó)聯(lián)邦材料研究與試驗(yàn)學(xué)院）緊密合作。他們擁有專業(yè)知識(shí)，對(duì)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)作出了決定性貢獻(xiàn)。

依科視朗Y.Panel-數(shù)碼平板探測(cè)器

Y.面板 XRD系列

• 適應(yīng)于軟件像素矯正的像素規(guī)格

• 模型選擇與應(yīng)用相對(duì)應(yīng)

• 自主探測(cè)器必要安裝和屏蔽設(shè)計(jì)

• 與主要探測(cè)器制造商緊密合作

無論是檢測(cè)焊縫、碳纖維增強(qiáng)塑料裝備、電子裝備還是鑄造部件：每個(gè)應(yīng)用需要合適的探測(cè)器設(shè)計(jì)，以取得圖像質(zhì)量和細(xì)節(jié)檢測(cè)能力。

依科視朗從各類制造商供應(yīng)的模型中挑出不同模型來完成此項(xiàng)工作。有時(shí)，制造商同意做出特定修改，比如減少敏感度。因此，允許有更高的放射量，但探測(cè)器不能超負(fù)荷。反之，由于信噪比提高，量子噪音降低，且細(xì)節(jié)檢測(cè)能力明顯提高。

在幾年前的一項(xiàng)聯(lián)合測(cè)試項(xiàng)目中，我們已與制造商一起解決了產(chǎn)品壽命問題，例如相關(guān)的Y.Panel XRD探測(cè)器模型。同樣，依科視朗已與制造商就修改Y.Panel XRD模型像素規(guī)格達(dá)成了一致，明確提高了標(biāo)準(zhǔn)模型的清晰度，且與ASTM 2597-E07保持一致。并考慮用Y.IMAGE軟件矯正算法找出足夠完美的相鄰像素以糾正響應(yīng)不足的像素灰度值。