當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 進口探傷儀 > 相控陣探傷儀 > 玖橫儀器超聲波相控陣探傷儀探頭PA傳感器
簡要描述:超聲波相控陣探傷儀探頭PA傳感器用于不同檢測應(yīng)用的各種形狀和尺寸的相控陣探頭。這里用示意圖說明了幾種類型的探頭典型陣列探頭的頻率范圍為1 MHz到17 MHz,晶片的數(shù)量范圍為10到128。提供各種各樣利用壓電復(fù)合材料技術(shù)的探頭,可進行各種各樣的檢測。本部分說明標(biāo)準(zhǔn)相控陣探頭。這些探頭被分為三種類型:角度聲束探頭、整合楔塊探頭及水浸探頭。
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超聲波相控陣探傷儀探頭PA傳感器用于不同檢測應(yīng)用的各種形狀和尺寸的相控陣探頭。這里用示意圖說明了幾種類型的探頭
典型陣列探頭的頻率范圍為1 MHz到17 MHz,晶片的數(shù)量范圍為10到128。提供各種各樣利用壓電復(fù)合材料技術(shù)的探頭,可進行各種各樣的檢測。本部分說明的標(biāo)準(zhǔn)相控陣探頭。這些探頭被分為三種類型:角度聲束探頭、整合楔塊探頭及水浸探頭。
其它類型的探頭是根據(jù)應(yīng)用需要而特殊設(shè)計的探頭。
超聲波相控陣探傷儀探頭PA傳感器
焊縫系列探頭
焊縫檢測探頭帶有外殼及一條從前面或頂部伸出的線纜,以避免與掃查器探頭架產(chǎn)生干擾。這些探頭適用于對焊縫進行的手動和自動檢測。新款A(yù)31和A32焊縫系列相控陣探頭和楔塊通過使用更少的設(shè)計方案,不僅使焊縫檢測得到簡化和標(biāo)準(zhǔn)化,而且還改進了信噪比。
DMA(雙矩陣)探頭
雙矩陣(DMA)探頭包含兩個與同一個連接器連線的矩陣探頭,具有使用發(fā)送-接收縱波(TRL)聲束進行檢測的能力。這類探頭的頻率為2.0 MHz和4.0 MHz,在檢測帶堆焊層的直管或高衰減性材料時,這些探頭特別有用。
雙晶線性陣列探頭
新型雙晶線性陣列探頭,在腐蝕檢測應(yīng)用方面,為檢測人員提供了多種優(yōu)于常規(guī)超聲雙晶探頭的優(yōu)勢。這種相控陣解決方案通過諸如更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度,及具有更高數(shù)據(jù)點密度的C掃描成像等特性提高生產(chǎn)力。
Immersion Probes
水浸探頭的設(shè)計目的是與水楔配合使用,或當(dāng)被測工件部分或全部浸入水中時在水浸箱中使用。這類探頭屬縱波探頭,但經(jīng)過設(shè)置后,使用Rexolite楔塊可以進行折射橫波檢測。
Curved Array Probes
曲面陣列探頭外包不銹鋼防腐鋼殼,在水面下1米以內(nèi)具有防水性能。這類探頭的聲學(xué)阻抗與水相配。它們可與所有可調(diào)節(jié)水浸楔塊配合使用,除了可完成復(fù)合材料的分層檢測,還可對碳纖維加強聚合物材料(CFRP)的圓角部位進行檢測。
深穿透探頭
深穿透探頭可與各種楔塊配合使用,進行各種角度聲束的檢測應(yīng)用。這些探頭于深穿透應(yīng)用,如對較厚平板、焊縫、鍛件,及多噪聲或晶粒狀材料的檢測。
小腳印探頭
小腳印探頭可進入到活動空間狹窄的區(qū)域(A00探頭的腳印尺寸為8×8毫米)。
一體化楔塊和符合規(guī)范的探頭
這種組合件將一體化楔塊和符合規(guī)范的探頭放置于同一個外殼中,這樣就使探頭和楔塊的組合件具有非常薄的側(cè)面,可以用于接觸式角度聲束檢測。由于無需在探頭和楔塊接觸面之間使用耦合劑,因此探頭和楔塊之間的耦合狀態(tài)會永遠保持完美的狀態(tài)。 這些探頭可對應(yīng)力腐蝕裂紋進行手動檢測,還可用于符合AWS和DGS規(guī)范的應(yīng)用,此外,這些探頭還可同時使用40°到70°角度對6.35毫米到19毫米的較厚表面進行手動焊縫檢測(對接接頭、角接接頭、T型接頭)。
用于角度聲束探頭的楔塊
用于角度聲束探頭的楔塊有可在鋼中生成0°、45°、55°、60°標(biāo)準(zhǔn)的折射角度的型號,可進行從30°到70°范圍內(nèi)的橫波或縱波角度聲束檢測。這些楔塊帶有不銹鋼螺釘孔,可將楔塊牢固地安裝在探頭上。 可訂購的IHC楔塊可以提高檢測質(zhì)量:灌溉,楔塊架上的安裝孔可用于連接的掃查器,硬質(zhì)合金條可提高防磨效果。
Universal(用途廣泛)探頭
用途廣泛的各種探頭與楔塊組合在一起的側(cè)面極薄,可以較為容易地進到空間狹小的區(qū)域。這些探頭可以和多種楔塊一起使用,進行各種角度聲束檢測應(yīng)用。 這些探頭不僅用于對6.35毫米到38毫米的較厚焊縫進行手動或自動檢測,還可對鑄鐵、鍛件、管道、管件、機加工部件及結(jié)構(gòu)部件的裂縫和焊縫缺陷進行檢測。
近壁探頭
近壁探頭的兩端具有較短的盲區(qū)(晶片的中心和后晶片的中心到與它們近的探頭外殼邊緣的距離是1.5毫米)。它們可以*地適用于復(fù)合材料的通道檢測,并用于復(fù)合材料的C掃描檢測(分層、脫膠和多孔性)。
用于曲面陣列探頭的水浸角形楔塊
用于曲面陣列探頭的水浸角形楔塊具有特殊的半徑和角度,其半徑可調(diào)以適用于各種被測工件。這些楔塊的設(shè)計目的是用于手動掃查,并配合袖珍輪式編碼器一起使用。
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